短波紅外成像應用-材料分選

近紅外光譜分析技術基于（X-H）分子官能團的化學鍵的簡諧振動，其簡諧振動的振幅與其相應勢能有關。但分子官能團吸收光子時，其勢能會由基態向激發態躍遷，從而會在近紅外光譜上形成特征吸收峰。由于不同物質含有的X-H化學鍵的形式、個數不同，所以不同材料在近紅外光譜形成的吸收峰也各有不同，因而通過吸收峰的位置及強度可以判斷材料種類。

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